应用案例
紧缩场测试系统案例
紧缩场测试系统案例
Compact field test system case
概要描述
紧缩场系统是远场测试系统，但紧缩场可以在更短的距离实现比远场更优的平面波，并且有更优的静区性能和动态范围，紧缩场系统将点源产生的球面波在近矩离内变换成平面波，实现测试中要求的远场测试条件，并通过对电磁波束聚焦，获得较佳的暗室背景电平质量。
紧缩场系统主要由反射面系统、馈源系统、转台系统、射频链路系统、天线暗室系统组成。
客户名称 国内某知名通信设备制造商
测试场主要规格：
暗室尺寸：
13m*6m*6m
频率：
1700MHz-110GHz
反射面尺寸：
325cm*270cm
静区尺寸：
170cm*120cm
幅度锥度：
≤1dB
幅度波动：
±0.4dB
相位锥度：
≤5度
相位波动：
±4度
交叉极化：
≤-30dB@典型
典型频率静区实测数据 — 1.7GHz，X cut
幅度波动：0.4dB
相位波动：1.4 °
幅度锥度：0.8dB
相位锥度：1.5 °
交叉极化：≤-32.0 dB
典型频率静区实测数据 — 2.6GHz，X cut
幅度波动: 0.37dB
相位波动: 1.4 °
幅度锥度: 0.8dB
相位锥度: 2.3 °
交叉极化: ≤-31.0 dB
典型频率静区实测数据 — 33.5GHz，X cut
幅度波动: 0.22dB
相位波动: 1.9 °
幅度锥度: 0.6dB
相位锥度: 0.1 °
交叉极化: ≤-30.0 dB
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